National Library of Finland
Open Data and Linked Data Service
Search works, persons, organizations and subjects:
Aspect-oriented approach to testing : experiences from a smartphone product family
URI:
http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00564348200
about
ohjelmistokehitys
ohjelmistotuotanto
testaus
älypuhelimet
author
Metsä, Jani
contributor
Tampereen teknillinen yliopisto
inLanguage
en
isPartOf
Fennica
name
Aspect-oriented approach to testing : experiences from a smartphone product family
P60049
<http://rdaregistry.info/termList/RDAContentType/1020>
Instances
-, e-book
2009 : Tampereen teknillinen yliopisto. Optoelektroniikan tutkimuskeskus
Aspect-oriented approach to testing : experiences from a smartphone product family
URI:
http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:I00564348201
bookFormat
<http://schema.org/EBook>
isPartOf
Fennica
Ledningsgruppen för datasäkerheten inom statsförvaltningen
name
Aspect-oriented approach to testing : experiences from a smartphone product family
url
<http://URN.fi/URN:NBN:fi:tty-200912187248>
View this in Finna
Aspect-oriented approach to testing : experiences from a smartphone product family
URI:
http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:I00564348200
datePublished
2009
description
Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja 6 eripainosta.
kuvitettu
identifier
propertyID:
FI-FENNI
value:
948066
propertyID:
FI-MELINDA
value:
005643482
propertyID:
skl
value:
fx948066
isbn
9789521522550
isPartOf
Fennica
Ledningsgruppen för datasäkerheten inom statsförvaltningen
name
Aspect-oriented approach to testing : experiences from a smartphone product family
numberOfPages
x, 82, [73] sivu
P60048
<http://rdaregistry.info/termList/RDACarrierType/1049>
P60050
<http://rdaregistry.info/termList/RDAMediaType/1007>
publication
location:
Tampere
organizer:
Tampereen teknillinen korkeakoulu Tampereen teknillinen yliopisto. Optoelektroniikan tutkimuskeskus
publisher
Tampereen teknillinen korkeakoulu
Tampereen teknillinen yliopisto. Optoelektroniikan tutkimuskeskus
Download this resource as RDF:
Turtle
RDF/XML
N-Triples
JSON-LD