Memory Testing of an Embedded Device
Norhamo, Tommi (2020)
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-202003093146
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-202003093146
Tiivistelmä
Tämä opinnäytetyö tehtiin ABB Oy Distribution Solutions yksikölle. Tämän opinnäytetyön tarkoituksena oli tutkia ja kehittää keinoja parantaa sulautetun laitteen itsevalvontaa. Työ helpottaisi laatuosaston työtä asiakaspalautustuotteiden muistivikojen diagnosoimisessa. Työ suoritettiin syksyn 2019 aikana.
Opinnäytetyössä kehitetään keskusmuistia testaava sulautettu ohjelmisto. Työssä käsitellään elektromagneettisia häiriöitä, erilaisten muistien rakenteita ja testaustekniikoita.
Tietoa kerättiin pääasiassa kirjallisuudesta, mutta myös tieteellisistä julkaisuista, artikkeleista ja laitteiden valmistajien teknisistä tiedotteista.
Testiohjelmisto tekee tehtävänsä eli löytää muistiviat sekä raportoi tulokset näytölle ja tiedostojärjestelmään. This thesis was written at ABB Oy, Distribution Solutions unit. The objective of this thesis was to explore and implement ways to improve self-testing properties of an embedded device. The aim is to help the Product Quality department to diagnose memory faults in customer returned products. The thesis was carried out during fall 2019.
The purpose of this thesis was to implement embedded software for testing memory. This thesis covers different memory architectures and memory testing fault models.
Information was mainly collected from literature, but scientific publications and papers are also used alongside device manufacturer datasheets.
The software does what it is designed for – it finds memory faults, reports them by writing them to a display and the filesystem.
Opinnäytetyössä kehitetään keskusmuistia testaava sulautettu ohjelmisto. Työssä käsitellään elektromagneettisia häiriöitä, erilaisten muistien rakenteita ja testaustekniikoita.
Tietoa kerättiin pääasiassa kirjallisuudesta, mutta myös tieteellisistä julkaisuista, artikkeleista ja laitteiden valmistajien teknisistä tiedotteista.
Testiohjelmisto tekee tehtävänsä eli löytää muistiviat sekä raportoi tulokset näytölle ja tiedostojärjestelmään.
The purpose of this thesis was to implement embedded software for testing memory. This thesis covers different memory architectures and memory testing fault models.
Information was mainly collected from literature, but scientific publications and papers are also used alongside device manufacturer datasheets.
The software does what it is designed for – it finds memory faults, reports them by writing them to a display and the filesystem.