Kenttälaitteiden kunnonvalvonta prosessiteollisuudessa
Kangosjärvi, Visa (2018)
Kangosjärvi, Visa
Tampereen ammattikorkeakoulu
2018
All rights reserved
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2018052810527
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2018052810527
Tiivistelmä
Opinnäytetyön toimeksiantaja oli Botnia Mill Service Tampereen yksikkö. Työn tarkoituksena oli selvittää ja kartoittaa kenttälaitteiden kunnonvalvonnassa käytettäviä, markkinoilla olevia ratkaisuja. Lisäksi tavoitteena oli kerätä tietoa siitä, millaista diagnostiikkatietoa laitteista on saatavilla sekä miten niitä pystytään lukemaan. Tietoa haettiin pääasiassa käyttöoppaista sekä kysymällä asiantuntijoilta.
Työssä kerrottiin Valmet DNA -automaatiojärjestelmästä yleisesti sekä sen sisältämän Field Device Manager -työkalusta ja työkalun käyttämästä FDT-teknologiasta. Kenttälaitteista käytiin läpi yleisiä ominaisuuksia sekä työkaluja kenttälaitteen diagnostiikkatietojen lukemiseen.
Tuloksista selviää, millaisia työkaluja kenttälaitteiden diagnostiikkatietojen lukemiseen on saatavilla markkinoilla ja millaisia ratkaisuja tehtailla on jo mahdollisesti käytössä. Joissain tapauksissa kenttälaitteen diagnostiikkatiedot saadaan suoraan automaatiojärjestelmään ilman erillisiä työkaluja. Näissä tapauksissa diagnostiikkatietoja voidaan käyttää sovellussuunnittelussa tulevaisuudessa näyttämään mahdolliset viat jo valvomonäytössä. Tämä vaatii kuitenkin vielä jatkokehitystä.
Työssä kerrottiin Valmet DNA -automaatiojärjestelmästä yleisesti sekä sen sisältämän Field Device Manager -työkalusta ja työkalun käyttämästä FDT-teknologiasta. Kenttälaitteista käytiin läpi yleisiä ominaisuuksia sekä työkaluja kenttälaitteen diagnostiikkatietojen lukemiseen.
Tuloksista selviää, millaisia työkaluja kenttälaitteiden diagnostiikkatietojen lukemiseen on saatavilla markkinoilla ja millaisia ratkaisuja tehtailla on jo mahdollisesti käytössä. Joissain tapauksissa kenttälaitteen diagnostiikkatiedot saadaan suoraan automaatiojärjestelmään ilman erillisiä työkaluja. Näissä tapauksissa diagnostiikkatietoja voidaan käyttää sovellussuunnittelussa tulevaisuudessa näyttämään mahdolliset viat jo valvomonäytössä. Tämä vaatii kuitenkin vielä jatkokehitystä.