Keraamisten monikerroskondensaattorien ALT-testauslaitteisto
Grönlund, Eric (2017)
Grönlund, Eric
Metropolia Ammattikorkeakoulu
2017
All rights reserved
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-201705096991
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-201705096991
Tiivistelmä
Insinöörityön tarkoitus oli selvittää keraamisten monikerroskondensaattorien ennenaikaisten vikaantumisten osuuksia eri komponenttivalmistajien välillä. Työn tavoite oli suunnitella ABB Oy:lle keraamisten monikerroskondensaattorien ALT-testilaitteisto alusta loppuun. Työ jakautui neljään osaan: piirilevysuunnittelu, testausjärjestelmän rakentaminen ja johdotus, testiohjelman kirjoittaminen sekä itse testaaminen.
Insinöörityössä suunniteltiin piirilevy PADS Logic- ja PADS Layout -ohjelmistoilla. Testijärjestelmä rakennettiin tarkoitukseen suunniteltuun PC-kaappiin, johon sijoitettiin tiedonkeruuta varten National Instrumentsin NI CompactDAQ-järjestelmä. Testituloksien keräämistä varten tehtiin tietokoneohjelma käyttäen LabView-ohjelmointiympäristöä. Testiohjelman tehtävä oli tallentaa ylös vikaantuneen kondensaattorin tiedot sekä vikaantumisen ajanhetki. Tallennetuista tiedoista oli tarkoitus tehdä analyysiä komponentin vikaantumismekanismeista ja eliniän ennusteesta.
Keraamisten monikerroskondensaattorien ALT-testaus tehtiin tähän tarkoitukseen soveltuvassa sääkaapissa käyttäen eri lämpötiloja ja jännitetasoja. Testi suoritettiin yhdessä rasituspisteessä jokaiselle tutkittavalle kondensaattorityypille erikseen. Testausjärjestelmän valmistuttua todettiin järjestelmän toimivan tilaajan toivomalla tavalla. Työn lopuksi kondensaattorien testituloksista verrattiin eri valmistajien tuotteita keskenään.
Insinöörityössä suunniteltiin piirilevy PADS Logic- ja PADS Layout -ohjelmistoilla. Testijärjestelmä rakennettiin tarkoitukseen suunniteltuun PC-kaappiin, johon sijoitettiin tiedonkeruuta varten National Instrumentsin NI CompactDAQ-järjestelmä. Testituloksien keräämistä varten tehtiin tietokoneohjelma käyttäen LabView-ohjelmointiympäristöä. Testiohjelman tehtävä oli tallentaa ylös vikaantuneen kondensaattorin tiedot sekä vikaantumisen ajanhetki. Tallennetuista tiedoista oli tarkoitus tehdä analyysiä komponentin vikaantumismekanismeista ja eliniän ennusteesta.
Keraamisten monikerroskondensaattorien ALT-testaus tehtiin tähän tarkoitukseen soveltuvassa sääkaapissa käyttäen eri lämpötiloja ja jännitetasoja. Testi suoritettiin yhdessä rasituspisteessä jokaiselle tutkittavalle kondensaattorityypille erikseen. Testausjärjestelmän valmistuttua todettiin järjestelmän toimivan tilaajan toivomalla tavalla. Työn lopuksi kondensaattorien testituloksista verrattiin eri valmistajien tuotteita keskenään.