Langattomien laitteiden EMC-testaus
Hannila, Kalle (2010)
Hannila, Kalle
Vaasan ammattikorkeakoulu
2010
All rights reserved
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2010121318000
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2010121318000
Tiivistelmä
Tämän opinnäytetyön tarkoituksena oli tehdä Testhouse Enko Oy:lle automatisoituja EMC-mittauksia langattomille laitteille mittatehokkuuden parantamiseksi. Yrityksellä oli jo ennestään toimiva EMC-testausympäristö.
Opinnäytetyössä käydään läpi langattomien laitteiden EMC-teoriaa ja EMC-testausteoriaa sekä standardeja. Työssä tutustutaan tuotekehitystestauksen sekä tyyppihyväksyntätestauksen eroavaisuuksiin ja käydään läpi emissio- sekä immuniteettimittauksia.
Työssä luotiin säteileviä sekä johtuvia emissiomittauksia sekä säteileviä immuniteettitestejä Rohde & Schwarzin EMC32 -mittaohjelmistoa käyttäen. Testejä automatisoitiin, jotta mittaukset olisivat paremmin toistettavissa sekä testejä voitaisiin suorittaa monta peräkkäin, mittatehokkuuden parantamiseksi.
Työn tuloksena yrityksellä on käytössä automatisoituja EMC-mittauksia sekä testisekvenssejä. Mittauksista sekä kalibroinneista tehtiin käyttöohjeet muille käyttäjille.
Opinnäytetyössä käydään läpi langattomien laitteiden EMC-teoriaa ja EMC-testausteoriaa sekä standardeja. Työssä tutustutaan tuotekehitystestauksen sekä tyyppihyväksyntätestauksen eroavaisuuksiin ja käydään läpi emissio- sekä immuniteettimittauksia.
Työssä luotiin säteileviä sekä johtuvia emissiomittauksia sekä säteileviä immuniteettitestejä Rohde & Schwarzin EMC32 -mittaohjelmistoa käyttäen. Testejä automatisoitiin, jotta mittaukset olisivat paremmin toistettavissa sekä testejä voitaisiin suorittaa monta peräkkäin, mittatehokkuuden parantamiseksi.
Työn tuloksena yrityksellä on käytössä automatisoituja EMC-mittauksia sekä testisekvenssejä. Mittauksista sekä kalibroinneista tehtiin käyttöohjeet muille käyttäjille.