Nonvolatile memory technologies and reliability

No Thumbnail Available
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Helsinki University of Technology | Diplomityö
Checking the digitized thesis and permission for publishing
Instructions for the author
Date
2008
Major/Subject
Mittaustekniikka
Mcode
S-108
Degree programme
Language
fi
Pages
xiii + 83
Series
Abstract
Tässä diplomityössä karakterisoitiin kiihtyvyysanturikomponentin ASIC-piirille integroidun EEPROM-muistin toimintaa ja luotettavuutta. Teoriaosuudessa käytiin läpi EEPROM-muistisolun ja flash-muistien toimintaa. Lisäksi tutustuttiin luotettavuustekniikkaan puolijohdeteollisuuden näkökulmasta. Käsiteltiin myös haihtumattomille muisteille ominaisia vikamoodeja, luotettavuusongelmia sekä erilaisia keinoja parantaa haihtumattomien muistien luotettavuutta. Lisäksi käydään läpi muistien luotettavuustestausta. Mittausosuudessa karakterisoitiin vialliseksi testattujen EEPROM-muistisolujen kynnysjännitteen kehitystä käyttäen hyväksi luotettavuustestauksen menetelmiä. Mittausten tarkoituksena oli todeta testauksessa käytetyn seulomismenetelmän soveltuvuus tarkoitukseensa. Lopputuloksena menetelmän avulla voitiin parantaa merkittävästi kyseisen kiihtyvyysanturikomponenttituotteen yleistä luotettavuutta. Tähän vikaantumiseen liittyvät asiakaspalautukset vähenivät murto-osaan, kun potentiaalisesti vikaantuvat tuotteet saatiin karsittua pois populaatiosta.
Description
Supervisor
Ikonen, Erkki
Thesis advisor
Törmälehto, Kimmo
Keywords
flash, EEPROM, memory, muisti, acceleration sensor, MEMS, reliability testing, kiihtyvyysanturi, luotettavuus, luotettavuustestaus
Other note
Citation